”IC 测试工程师 DC Pattern 半导体“ 的搜索结果

     在芯片测试领域，主要分为两部分测试，业界通俗的叫法是CP和FT，我们今天主要谈谈CP的问题。什么是CP测试？CP是（ChipProbe）是缩写，指的是芯片在foundry流片回来后，需要在wafer level 进行简单的DC和功能测试，...

     第1 章认识半导体和测试设备 更多.. 1947 年，第一只晶体管的诞生标志着半导体工业的开始，从那时起，半导体生产和制造技 术变得越来越重要... 第1 节 晶圆、晶片和封装 第 3 节 半导体技术 第 5 节 测试系统的种类 ...

     集成电路 IP／SOC 功能验证规范 集成电路 A/D 和 D/A 转换器测试方法的基本原理 ... 半导体集成电路电压比较器测试方法 半导体分立器件和集成电路 电子元器件检验员职业标准 计算机程序设计员职业标准

     数字半导体测试基础，这个手册时关于芯片编程的辅助，只有基于内部原理才能编出更好的应用程序，体会IC的世界对今后的其他编程有所助益

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